紫外輻照計 MKY-UV-313
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
u 主要性能指標(biāo)
※ 波長范圍及峰值波長:
UV-313探頭:λ:(290~340)nm;λP=313nm
※ 輻照度測量范圍:
(0.1~199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光:
UV313:小于0.05%
※ 余弦特性:
符合國家二級光照度標(biāo)準(zhǔn)
※ 示值相對誤差:
±10%
※ 響應(yīng)時間:
1秒
※ 使用環(huán)境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
※ 尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※ 電源:
9V積層電池(6F22型)一只
紫外輻照計 MKY-UV-313
該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
u 主要性能指標(biāo)
※ 波長范圍及峰值波長:
UV-313探頭:λ:(290~340)nm;λP=313nm
※ 輻照度測量范圍:
(0.1~199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光:
UV313:小于0.05%
※ 余弦特性:
符合國家二級光照度標(biāo)準(zhǔn)
※ 示值相對誤差:
±10%
※ 響應(yīng)時間:
1秒
※ 使用環(huán)境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
※ 尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※ 電源:
9V積層電池(6F22型)一只